環(huán)境影響快速溫度變化試驗(yàn)設(shè)備 大小600L

  快速溫變?cè)囼?yàn)箱，又稱溫變?cè)囼?yàn)箱、快溫變?cè)囼?yàn)箱、快速溫濕度變化試驗(yàn)箱、ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱，適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在快速高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度變化試驗(yàn)用來(lái)確定元器件、設(shè)備或其它產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。皓天快速溫度變化試驗(yàn)箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行快速溫變變化試驗(yàn)、耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法：

1）GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

2）GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

3）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

4）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

5）GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) (IEC 60068-2-78：2012, IDT)；

6）GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）(IEC 60068-2-30:2005, IDT)；

7）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)箱工作室容積劃分為：

TEB-225   225L   TEB-408 408L

TEB-600   600L   TEB-800 800L

TEB-1000 1000L 內(nèi)箱尺寸可定制！

環(huán)境影響快速溫度變化試驗(yàn)設(shè)備 大小600L

 技術(shù)參數(shù)：
溫度范圍：-70℃～150℃（還有-60℃～150℃/-40℃～150℃/-20℃～150℃/0℃～150℃的溫度范圍給大家選）
快溫變的標(biāo)準(zhǔn)范圍：-45℃～80℃
濕度范圍：20%～98%R.H（濕度范圍如果不需要盡量不加，因?yàn)闀?huì)增加耗電量）
快溫變速率：5℃/分、3℃/分、8℃/分、10℃/分、11℃/分、15℃/分、13℃/分、（線性或非線性變化斜率可選）
溫/濕均勻度:±1℃, ±2%.
溫/濕穩(wěn)定度：±0.5℃, ±2%.
溫.濕度偏差:≤±2℃/ ±3%RH.
溫度傳感器:*鉑金電阻（PT100）

快速升降高低溫箱是樣品在人工設(shè)計(jì)*極低的溫度強(qiáng)度極限下，愛(ài)佩廠家運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)交變時(shí)，樣品產(chǎn)生交替的膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力，使樣品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，通過(guò)加速溫變應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗跇悠返蔫Υ酶‖F(xiàn)[潛在樣品零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該樣品在使用過(guò)程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效或者故障，造成不必要的重大損失，對(duì)于提高樣品出貨質(zhì)量與降低故障返修次數(shù)有著明顯的效果，另外快速溫度變化本身是一種制程階段的過(guò)程，而不是一種可靠度試驗(yàn)，所以快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是％對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序測(cè)試的選擇。